Direct naar de inhoud

donderdag 5 november 2026

Landbouw & VeeteeltAGF

Nieuwe X-ray technologie voor detectie van verontreinigingen in aardappelproducten

Mettler-Toledo Productinspectie heeft de X56 DXD+ geïntroduceerd, een nieuw X-ray inspectiesysteem binnen de X6-serie. Het systeem maakt gebruik van photon-counting technologie met dual energy en is ontwikkeld voor de inspectie van verpakte producten in de voedingsmiddelenindustrie.

Lees het volledige artikel bij AGF

Je gaat naar de website van de uitgever. Hier tonen we alleen een korte intro.

Advertentie

Gerelateerd nieuws

Bekijk alles

Advertentie