IndustrieMetaal Magazine
Zeiss O-Inspect duo combineert tactiele en optische metrologie met microscopie
Grote componenten kunnen in zijn geheel zowel worden gemeten als geïnspecteerd met de nieuwe Zeiss O-Inspect duo. Dit multifunctionele systeem combineert tactiele en optische metrologie met microscopie. Zo bestrijkt het twee belangrijke toepassingsgebieden in kwaliteitscontrole. Deze grootste industriële microscoop die Zeiss ooit heeft gehad, wordt officieel gelanceerd tijdens de Precisiebeurs in ’s-Hertogenbosch.

Je gaat naar de website van de uitgever. Hier tonen we alleen een korte intro.

